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第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
歡迎蒞臨SEMICON China 2015 聯動展位


2015年3月17-19日，聯動科技在為期三天的面向全球半導體同行的旗艦展會SEMICON上，向新老客戶展示了公司目前在半導體測試系統(tǒng)，半導體激光打標設備，視像檢測系統(tǒng)類的最新產品，包括QT-8100模擬數字混合信號IC測試系統(tǒng)，QT-6106C測試模組，雪崩測試模組，RG/QG測試模組，獨立熱阻測試模組以及FIBER 脈沖分體式雙頭打標設備和光纖分體式視像定位打標設備。